SpringBoot整合MybatisPlus如何實現芯片測試

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問題描述

有n（2≤n≤20）塊芯片，有好有壞，已知好芯片比壞芯片多。
每個芯片都能用來測試其他芯片。用好芯片測試其他芯片時，能正確給出被測試芯片是好還是壞。而用壞芯片測試其他芯片時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試芯片實際的好壞無關）。
給出所有芯片的測試結果，問哪些芯片是好芯片。
輸入格式
輸入數據第一行為一個整數n，表示芯片個數。
第二行到第n+1行為n*n的一張表，每行n個數據。表中的每個數據為0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的數據表示用第i塊芯片測試第j塊芯片時得到的測試結果，1表示好，0表示壞，i=j時一律為1（并不表示該芯片對本身的測試結果。芯片不能對本身進行測試）。
輸出格式
按從小到大的順序輸出所有好芯片的編號

解題思路

這個題重在思考，想通了原理，編程非常簡單！
題目中的一個條件非常重要：已知好芯片比壞芯片多
因此隨便拿一個芯片，看所有芯片對它的評價，如果為1的數量大于0的話，該芯片就是好的。
思路找到了，那么程序中怎么去求所有芯片對一個芯片的評價之和呢？
其實很簡單，數組的第一列其實就分別表示，第j個芯片對第1個芯片的評價。換言之，直接判斷第一列1和0的個數，如果1的個數多，那么第一個芯片就是好的了。

程序清單

#include<iostream>using namespace std;int main(){
   
   
   int n=0;
	cin>>n; //輸入n,n大于2，小于20 int a[n][n];for(int i=0;i<n;i++)for(int j=0;j<n;j++){
   
   
   
			cin>>a[i][j];  //輸入測試結果 }for(int j=0;j<n;j++)//查看所所芯片對第j+1個芯片的測試結果 {
   
   
   int sum=0;for(int i=0;i<n;i++){
   
   
   
			sum+=a[i][j];}if(sum>n-sum) //如果1的個數大于0的個數 ，則為好芯片 
			cout<<j+1<<">;}return 0;}

測試結果

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